材料分析
材料分析
切片+顯微觀察（光學(xué)顯微鏡OM、掃描電鏡SEM、透射電鏡TEM）
材料力學(xué)/電學(xué)/熱學(xué)/化學(xué)性能分析
表面微區(qū)分析
異物/污染分析
材料老化及可靠性分析
【表面材料分析手段】：
AES 俄歇電子能譜儀應(yīng)用
AFM 原子力顯微鏡應(yīng)用
EELS 電子能量損失分析儀應(yīng)用
FT-IR 傅立葉紅外顯微鏡應(yīng)用
SEM/EDS 掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀應(yīng)用
SIMS 二次離子能譜儀（特殊定點(diǎn)/非定點(diǎn)制樣、元素分析）
TEM 透射電鏡（定點(diǎn)/非定點(diǎn)制樣及上機(jī)觀察）
TOF-SIMS 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜應(yīng)用
XPS X射線光電子能譜儀應(yīng)用