集成電路產(chǎn)品EMC測試系統(tǒng)是嚴格按照IEC 61967和IEC 62132系列進行設計,整套系統(tǒng)的功能和性能不僅能夠滿足上述兩大類標準要求的測試項目。而且在系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)具有創(chuàng)新性、實踐可行性,滿足各類集成電路模塊、各類存儲芯片、各類電源管理芯片、各類接口芯片、各類時鐘芯片以及運放等。
集成電路產(chǎn)品EMC測試系統(tǒng)的測試項目有:EMI類、EMS類。
EMI類:依據(jù)IEC 61967系列標準;
TEM小室法—輻射發(fā)射測試;
表面掃描法—輻射發(fā)射測試;
1Ω/150Ω直接耦合法—傳導發(fā)射測試;
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