射頻連接器的插拔壽命試驗(yàn)方法
概述
試驗(yàn)對(duì)象是一條長度為1米，二端為Nm的RG223測試電纜組件（BXT P/N：RG223-03-03-1000A），被測的Nm接頭的螺套和外導(dǎo)體采用銅鍍?nèi)辖鸩牧希瑑?nèi)導(dǎo)體則采用鍍金黃銅。試驗(yàn)是在以下條件下進(jìn)行的：
1.試驗(yàn)針對(duì)其中一端的Nm接口，與一個(gè)Nf連接器進(jìn)行對(duì)接，采用扳手進(jìn)行連接和拆卸。為了保證精度，采用了不銹鋼材料的Nf接頭，一般情況下，不銹鋼材料的連接器的壽命是1000次，這要比銅材高出整整一倍。
2.每插拔一次為一個(gè)循環(huán)，每100次插拔后測量一次電纜組件的插入損耗和被試驗(yàn)端的接口的駐波，并記錄在2.2GHz頻率點(diǎn)上的數(shù)值。試驗(yàn)共進(jìn)行了2400次。
壽命試驗(yàn)結(jié)果
最終測試結(jié)果見圖2和圖3，其中圖2（a）為電纜組件在2.2GHz時(shí)插入損耗隨著插拔次數(shù)的變化，圖2（b）為2.2GHz時(shí)駐波隨著插拔次數(shù)的變化。
圖中的紅色趨勢(shì)線說明，盡管實(shí)測值有些波動(dòng)，電纜組件的插入損耗總是隨著接頭的磨損而變大；而駐波則無明顯的劣化現(xiàn)象，其典型值始終保持在1.07~1.09之間。
圖3是掃頻條件下的插入損耗和駐波變化，分別記錄了在插拔1000次，1600次和2000次情況下從10MHz-3GHz的指標(biāo)。掃頻結(jié)果顯示在整個(gè)工作頻段內(nèi)，其插入損耗和駐波的變化特征與點(diǎn)頻是一致的。
1.雖然上述試驗(yàn)僅僅針對(duì)一只射頻連接器，但是從試驗(yàn)結(jié)果依然可以得出一些參考結(jié)論：
2.正常使用前提下，射頻連接器的壽命將會(huì)大大超過500次的標(biāo)準(zhǔn)值；在整個(gè)頻段內(nèi)，沒有發(fā)現(xiàn)某個(gè)頻點(diǎn)有插入損耗和駐波的跳變現(xiàn)象。
3.射頻連接器的插入損耗值隨著機(jī)械磨損而逐漸增加；而駐波則幾乎沒有變化；從過程看，似乎沒有一個(gè)明顯的失效點(diǎn)，所以在生產(chǎn)線上，如果沒有發(fā)現(xiàn)電纜的明顯故障，應(yīng)建立強(qiáng)制報(bào)廢制度，以保證測試指標(biāo)