手機(jī)特殊條件測(cè)試可靠性測(cè)試
手機(jī)特殊條件測(cè)試
1. 低溫跌落試驗(yàn)（Low temperature Drop Test）
2 測(cè)試環(huán)境：-20°C；4臺(tái)手機(jī)；開(kāi)機(jī)狀態(tài)。
2 試驗(yàn)方法：將手機(jī)進(jìn)行電性能參數(shù)測(cè)試后處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)放置在-20° C的低溫試驗(yàn)箱內(nèi)1小時(shí)后取出，進(jìn)行1.2米的６個(gè)面跌落，２個(gè)循環(huán)，要求3分鐘內(nèi)完成跌落，方法同常溫跌落。
2 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)，功能和電性能參數(shù)符合要求。
2. 扭曲測(cè)試（Twist Test）
2 測(cè)試環(huán)境：室溫；4臺(tái)；開(kāi)機(jī)狀態(tài)；0.08倍手機(jī)厚度N·m力矩扭曲手機(jī)1000次。
2 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)沒(méi)有變形,外觀無(wú)異常，各項(xiàng)功能正常。
3. 軟壓測(cè)試（Squeeze Test）
2 測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25°C）；4臺(tái)；開(kāi)機(jī)狀態(tài)；25Kg力反復(fù)擠壓手機(jī)10000次
2 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)沒(méi)有變形,外觀無(wú)異常，各項(xiàng)功能正常。
4. 撞擊測(cè)試（impact Test）
2 測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；4臺(tái)手機(jī)；0.2J的功率，打擊鏡片四角及中心各式各1 次。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)鏡蓋無(wú)變形，無(wú)裂縫，無(wú)破損（允許有白點(diǎn)）， LCD功能正常。
訊科檢測(cè)通過(guò)精密測(cè)試儀器，為各行業(yè)、企業(yè)提供相關(guān)產(chǎn)品配方分析檢測(cè)服務(wù)，提供電子產(chǎn)品的可靠性檢測(cè)、出口認(rèn)證、運(yùn)輸鑒定報(bào)告、MSDS報(bào)告，材料的定性定量分析、組織結(jié)構(gòu)分析、化學(xué)成分分析、表面及微區(qū)的形貌、力學(xué)性質(zhì)及物化性能等多項(xiàng)測(cè)試，訊科檢測(cè)是國(guó)家認(rèn)可的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，是通過(guò)國(guó)家資質(zhì)認(rèn)定（CMA）和中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)（CNAS）認(rèn)可的。可根據(jù)檢測(cè)和分析結(jié)果，出具檢測(cè)和分析報(bào)告！
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