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電阻失效分析有什么流程

電阻器電位器失效機(jī)理視類型不同而不同。非線形電阻器和電位器主要失效模式為開(kāi)路、阻值漂移、引線機(jī)械損傷和接觸損壞;線繞電阻器和電位器主要失效模式為開(kāi)路、引線機(jī)械損傷和接觸損壞。電阻失效分析主要有以下四類:

碳膜電阻器。引線斷裂、基體缺陷、膜層均勻性差、膜層刻槽缺陷、膜材料與引線端接觸不良、膜與基體污染等。

金屬膜電阻器。電阻膜不均勻、電阻膜破裂、引線不牢、電阻膜分解、銀遷移、電阻膜氧化物還原、靜電荷作用、引線斷裂、電暈放電等。線繞電阻器。接觸不良、電流腐蝕、引線不牢、線材絕緣不好、焊點(diǎn)熔解等??勺冸娮杵?。接觸不良、焊接不良、接觸**破裂或引線脫落、雜質(zhì)污染、環(huán)氧膠不好、軸傾斜等。
電阻容易產(chǎn)生變質(zhì)和開(kāi)路故障。電阻變質(zhì)后往往是阻值變大的漂移。電阻一般不進(jìn)行修理,而直接更換新電阻。線繞電阻當(dāng)電阻絲燒斷時(shí),某些情況下可將燒斷處理重新焊接后使用。
電阻變質(zhì)多是由于散熱不良,過(guò)分潮濕或制造時(shí)產(chǎn)生缺陷等原因造成的,而燒壞則是因電路不正常,如短路、過(guò)載等原因所引起。電阻燒壞常見(jiàn)有兩種現(xiàn)象,一種是電流過(guò)大使電阻發(fā)熱引起電阻燒壞,此時(shí)電阻表面可見(jiàn)焦糊狀,很易發(fā)現(xiàn)。另一種情況是由于瞬間高壓加到電阻上引起電阻開(kāi)路或阻值變大,這種情況,電阻表面一般沒(méi)有明顯改變,在高壓電路經(jīng)??砂l(fā)現(xiàn)這種故障現(xiàn)象的電阻。
可變電阻器或電位器主要有線繞和非線繞兩種。它們共同的失效模式有:參數(shù)漂移、開(kāi)路、短路、接觸不良、動(dòng)噪聲大,機(jī)械損傷等。但是實(shí)際數(shù)據(jù)表明:實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)與現(xiàn)場(chǎng)使用之間主要的失效模式差異較大,實(shí)驗(yàn)室故障以參數(shù)漂移居多,而現(xiàn)場(chǎng)以接觸不良、開(kāi)路居多。
電位器接觸不良的故障,在現(xiàn)場(chǎng)使用中普遍存在。如在電信設(shè)備中達(dá)9 0 % ,在電視機(jī)中約占8 7 %,故接觸不良對(duì)電位器是致命的薄弱環(huán)節(jié)。造成接觸不良的主要原因如下:接觸壓力太小、**應(yīng)力松弛、滑動(dòng)接點(diǎn)偏離軌道或?qū)щ妼?、機(jī)械裝配不當(dāng),又或很大的機(jī)械負(fù)荷(如碰撞、跌落等)導(dǎo)致接觸**變形等。導(dǎo)電層或接觸軌道因氧化、污染,而在接觸處形成各種不導(dǎo)電的膜層。導(dǎo)電層或電阻合金線磨損或燒毀,致使滑動(dòng)點(diǎn)接觸不良。

電位器開(kāi)路失效主要是由局部過(guò)熱或機(jī)械損傷造成的。例如,電位器的導(dǎo)電層或電阻合金線氧化、腐蝕、污染或者由于工藝不當(dāng)(如繞線不均勻,導(dǎo)電膜層厚薄不均勻等)所引起的過(guò)負(fù)荷,產(chǎn)生局部過(guò)熱,使電位器燒壞而開(kāi)路;滑動(dòng)觸點(diǎn)表面不光滑,接觸壓力又過(guò)大,將使繞線嚴(yán)重磨損而斷開(kāi),導(dǎo)致開(kāi)路;電位器選擇與使用不當(dāng),或電子設(shè)備的故障危及電位器,使其處于過(guò)負(fù)荷或在較大的負(fù)荷下工作。這些都將加速電位器的損傷。

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