高低溫試驗(yàn)和雙 85 老化試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)如下：
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫》和 GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：高溫》。這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低溫和高溫試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、試驗(yàn)程序和試驗(yàn)方法等3。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-1《環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn) 試驗(yàn) A：低溫》和 IEC 60068-2-2《環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn) 試驗(yàn) B：高溫》。這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)與國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)類似，是國(guó)際上廣泛采用的高低溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
其他標(biāo)準(zhǔn)：如 EIA 364、MIL-STD-810F 等，也對(duì)高低溫試驗(yàn)的相關(guān)內(nèi)容進(jìn)行了規(guī)定。
雙 85 老化試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
試驗(yàn)條件：溫度 85℃，相對(duì)濕度 85% RH1。
試驗(yàn)設(shè)備：通常使用恒溫恒濕試驗(yàn)箱，該設(shè)備能夠精確控制溫度和濕度，確保試驗(yàn)環(huán)境的穩(wěn)定性和一致性。
試驗(yàn)時(shí)間：常見的測(cè)試時(shí)間為 1000 小時(shí)，有些試驗(yàn)甚至?xí)掷m(xù)更長(zhǎng)時(shí)間，如 2000 小時(shí)或更久。
國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)：如 IEC 61215《地面用晶體硅光伏組件 設(shè)計(jì)鑒定和定型》和 IEC 61646《薄膜光伏（PV）組件 設(shè)計(jì)鑒定和定型》中，對(duì)光伏組件的雙 85 老化試驗(yàn)進(jìn)行了詳細(xì)規(guī)定
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