汽車芯片可靠性測(cè)試介紹
現(xiàn)代汽車智能化程度越來(lái)越高,同時(shí)在車載電子控制技術(shù)領(lǐng)域中芯片的應(yīng)用也越來(lái)越廣泛。但是,汽車行駛環(huán)境嚴(yán)峻,芯片遭受的挑戰(zhàn)和風(fēng)險(xiǎn)也更加復(fù)雜和嚴(yán)峻。因此,保證芯片的可靠性是汽車工業(yè)發(fā)展過(guò)程中至關(guān)重要的一環(huán)。
汽車芯片可靠性測(cè)試就是對(duì)芯片在各種極端環(huán)境和應(yīng)用場(chǎng)景下進(jìn)行驗(yàn)證和測(cè)試,從而確保芯片可靠性滿足汽車工業(yè)的要求標(biāo)準(zhǔn)。
檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)
目前國(guó)內(nèi)外有很多芯片可靠性測(cè)試檢測(cè)機(jī)構(gòu)測(cè)試項(xiàng)目與服務(wù),其中包括:
溫度循環(huán)測(cè)試 高溫、低溫、濕熱、干熱、鹽霧等環(huán)境測(cè)試 機(jī)械震動(dòng)、機(jī)械沖擊、耐磨性測(cè)試等 EMC測(cè)試 芯片熱分析、微結(jié)構(gòu)分析、紅外熱像測(cè)試等
SGS提供的芯片可靠性測(cè)試項(xiàng)目與服務(wù)涵蓋了從初期篩查到標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試及方案設(shè)計(jì)的所有領(lǐng)域,以及將芯片部件從研發(fā)階段過(guò)渡到實(shí)際應(yīng)用領(lǐng)域的所有市場(chǎng)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。
方法
汽車芯片可靠性測(cè)試的方法因芯片類型和車輛應(yīng)用環(huán)境的不同而異。一般情況下,汽車芯片可靠性測(cè)試包括以下幾種測(cè)試方法。
高溫、低溫、鹽霧、濕熱等環(huán)境測(cè)試
高溫、低溫、鹽霧、濕熱等環(huán)境測(cè)試是指將芯片放入模擬車內(nèi)不同環(huán)境的實(shí)驗(yàn)箱內(nèi),在特定溫度、濕度、鹽霧等環(huán)境下對(duì)芯片進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試,從而模擬車輛實(shí)際使用過(guò)程中可能遇到的各種極端情況。
機(jī)械沖擊、機(jī)械震動(dòng)、耐磨等測(cè)試
在汽車實(shí)際使用環(huán)境中,芯片可能會(huì)受到來(lái)自道路顛簸、行駛過(guò)程震蕩等各種機(jī)械力的沖擊。因此,機(jī)械沖擊、機(jī)械震動(dòng)、耐磨等測(cè)試可以幫助評(píng)估芯片的抗機(jī)械沖擊、抗耐磨等性能。
EMC測(cè)試
電磁兼容性(EMC)測(cè)試是指對(duì)芯片避免干擾和魯棒性能的測(cè)試。通過(guò)測(cè)試芯片在不同頻率下的輻射發(fā)射和抗擾度等指標(biāo),以評(píng)估芯片的EMC性能。
步驟
下面是一般情況下汽車芯片可靠性測(cè)試的步驟:
1. 確定測(cè)試項(xiàng)目與標(biāo)準(zhǔn)
從車輛芯片可靠性測(cè)試的各個(gè)方面來(lái)設(shè)計(jì)、確定相關(guān)的測(cè)試方案,并確認(rèn)相應(yīng)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),例如IEC 60068、MIL-STD等。
2. 準(zhǔn)備測(cè)試設(shè)備和標(biāo)本
準(zhǔn)備合適的測(cè)試環(huán)境、測(cè)試器材和標(biāo)本以進(jìn)行測(cè)試,包括熱源,恒溫水槽,鹽霧、濕熱等環(huán)境模擬設(shè)備,機(jī)械沖擊測(cè)試設(shè)備,EMC測(cè)試設(shè)備等。
3. 測(cè)試樣品的測(cè)試
將測(cè)試樣品放入到測(cè)試設(shè)備中,在測(cè)試過(guò)程中按照相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試,并記錄測(cè)試數(shù)據(jù)。
4. 評(píng)估測(cè)試結(jié)果
評(píng)估樣品在各項(xiàng)測(cè)試指標(biāo)上的表現(xiàn),并按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行判定,如達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)要求即視為符合要求。
5. 測(cè)試報(bào)告
生成相應(yīng)的測(cè)試報(bào)告,反饋測(cè)試結(jié)果與數(shù)據(jù)。
總結(jié)
汽車芯片可靠性測(cè)試是保證車載電子控制技術(shù)的可靠性的重要保障,對(duì)整個(gè)汽車工業(yè)的發(fā)展至關(guān)重要。在測(cè)試中,選擇合適的檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)和測(cè)試方法至關(guān)重要。希望通過(guò)上述介紹,讓大家對(duì)汽車芯片可靠性測(cè)試有一個(gè)更全面的了解。
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