什么是失效分析?
失效分析(FA)是對(duì)已失效器件進(jìn)行的一種事后檢查。根據(jù)需要,采用電測(cè)試以及各種先進(jìn)的物理、金相和化學(xué)分析技術(shù),并結(jié)合元器件失效前后的具體情況及有關(guān)技術(shù)文件進(jìn)行分析,以驗(yàn)證所報(bào)告的失效,確定元器件的失效模式、失效機(jī)理和造成失效的原因。全面系統(tǒng)的失效分析可以確定失效的原因,對(duì)于器件設(shè)計(jì)、制造工藝、試驗(yàn)或應(yīng)用的改進(jìn)具有指導(dǎo)作用,采取相應(yīng)的糾正措施消除失效模式或機(jī)理產(chǎn)生的原因,從而實(shí)現(xiàn)器件以及裝備整體可靠性的提高。
通過(guò)失效分析可以發(fā)現(xiàn)失效器件的固有質(zhì)量問(wèn)題,也有可能發(fā)現(xiàn)元器件因不按規(guī)定條件使用而失效的使用質(zhì)量問(wèn)題,通過(guò)向有關(guān)方面反饋,促使責(zé)任方采取糾正措施,以便消除所報(bào)告的失效模式或機(jī)理產(chǎn)生的原因,防止其再次出現(xiàn),對(duì)提高元器件的固有質(zhì)量或使用質(zhì)量都起到十分重要的作用。
失效分析對(duì)產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用都具有重要的意義,失效可能發(fā)生在產(chǎn)品壽命周期的各個(gè)階段,涉及產(chǎn)品的研發(fā)設(shè)計(jì)、來(lái)料檢驗(yàn)、加工組裝、測(cè)試篩選、客戶端使用等各個(gè)環(huán)節(jié),通過(guò)分析工藝廢次品、早期失效、試驗(yàn)失效、中試失效以及現(xiàn)場(chǎng)失效的樣品,確認(rèn)失效模式、分析失效機(jī)理,明確失效原因,最終給出預(yù)防對(duì)策,減少或避免失效的再次發(fā)生。
分析項(xiàng)目
基本項(xiàng)目
1、外部檢查
2、電參數(shù)測(cè)試
3、非功能測(cè)試
4、X射線照相X-RAY、X-CT 射線分析(3D)
5、PIND
6、密封性檢查
7、聲學(xué)掃描顯微鏡分析(SAM)C-SAM、TEM(透射電子顯微鏡)
8、內(nèi)部檢查
9、剖面金相分析
10、鍵合強(qiáng)度測(cè)試
11、剪切強(qiáng)度測(cè)試
12、掃描電子顯微鏡分析(SEM)、SEM&EDS
13、粗檢漏、細(xì)檢漏
14、內(nèi)部氣氛分析儀
15、切片
16、染色試驗(yàn)
17、FIB(聚焦離子束)
18、ESD測(cè)試
19、Latch-up 測(cè)試(電源端)
20、芯片剪切力、鍵合拉力、推球
21、EMMI(光發(fā)射顯微鏡)
22、紅外熱成像系統(tǒng)
23、TOF-SIMS(二次離子質(zhì)譜分析)
形貌分析技術(shù):體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束
成分檢測(cè)技術(shù):X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質(zhì)譜SIMS、光譜、色譜、質(zhì)譜
電分析技術(shù):I-V曲線、半導(dǎo)體參數(shù)、LCR參數(shù)、集成電路參數(shù)、頻譜分析、ESD參數(shù)、電子探針、機(jī)械探針、絕緣耐壓、繼電器特性
開封制樣技術(shù):化學(xué)開封、機(jī)械開封、等離子刻蝕、反應(yīng)離子刻蝕、化學(xué)腐蝕、切片
缺陷定位技術(shù):液晶熱點(diǎn)、紅外熱像、電壓襯度、光發(fā)射顯微像、OBIRCH
失效分析產(chǎn)品
PCBA、高光板、雨刮器、汽車線束、汽車面板、汽車導(dǎo)航、通信模塊、LED、光模板
檢測(cè)范圍
· 鋼板型鋼
· 銅材鋁材
· 鋼管
· 焊接材料
· 門窗
· 卷簾門
· 廚房用品
· 各種金屬掛件
· 機(jī)器零件
· 車輛配件
· 鋅制品合金
· 銅材
· 鋼材
· 鋁材
· 中厚鋼板
· 薄鋼板
· 電工用硅鋼片
· 帶鋼
· 無(wú)縫鋼管鋼材
· 焊接鋼管
· 鋼管
· 金屬制品
我們秉承科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)?shù)墓ぷ鲬B(tài)度,以客戶為中心,高效統(tǒng)籌安排測(cè)試計(jì)劃,竭力縮短測(cè)試時(shí)間的周期,為客戶提供快捷、公正的第三方咨詢檢測(cè)等服務(wù)。服務(wù)區(qū)域遍布廣東廣州、深圳、東莞、佛山、中山、珠海、清遠(yuǎn)、惠州、茂名、揭陽(yáng)、梅州、江門、肇慶、汕頭、潮州、河源、韶關(guān)及全國(guó)各地如您有相關(guān)產(chǎn)品需要咨詢,歡迎您直接來(lái)電咨詢我司工作人員,獲得詳細(xì)的費(fèi)用報(bào)價(jià)與周期方案等信息,深圳訊科期待您的光臨!
下一篇:太陽(yáng)輻射試驗(yàn)測(cè)試要求及故障機(jī)理
- 電子產(chǎn)品FCC認(rèn)證測(cè)試流程規(guī)范
- 韓國(guó)K-REACH合規(guī)服務(wù)
- 平均無(wú)故障時(shí)間(Mean Time Between Failures,簡(jiǎn)稱 MTBF)詳細(xì)介紹
- 工業(yè)烤箱隧道爐安全檢測(cè)詳細(xì)內(nèi)容
- 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)測(cè)試要求及故障機(jī)理
- IP等級(jí)測(cè)試報(bào)告第三方測(cè)試實(shí)驗(yàn)室CNAS、CMA
- PCBA電路板霉菌試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)和要求
- RoHS和REACH對(duì)電子行業(yè)有什么影響
- 什么是金屬疲勞試驗(yàn)
- 二氧化碳腐蝕試驗(yàn)的目的和介紹