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EMC測試項目之電壓跌落(DIPS)

概述

電壓暫降和電壓中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷的連續(xù)變化引起的。如果EUT對電源電壓的變化不能及時作出反應(yīng),就有可能引發(fā)故障。

本方法適用于額定輸入電流每相不超過16A、連接到50Hz/60Hz交流電網(wǎng)的電氣和電子設(shè)備,對于電流大于16A的測試要求,有IEC 61000-4-34標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。

電壓暫降的測試等級以%UT(暫降后剩余電壓為參考電壓的百分比)表示:0%,40%,70%,80%。

短時中斷,一般指電源完全中斷達(dá)250個周期(50Hz)或者300個周期(60Hz)。

電壓變化,一般指突變到70%后維持1個周期,再經(jīng)過25/30個周期后恢復(fù)到參考電壓的情況。

電壓跌落,關(guān)閉電源和斷電對設(shè)備產(chǎn)生的影響:

1、按鍵式關(guān)閉電源是告知 CPU 工作完畢,CPU 進(jìn)入關(guān)機(jī)程序,完成特定的操作。如:關(guān)閉各個輸出端口, 機(jī)械執(zhí)行裝置復(fù)位,保存當(dāng)前工作參數(shù),熄滅顯示器。

2、突然斷電 CPU 沒有足夠的時間完成關(guān)機(jī)任務(wù),再次開機(jī)有可能帶來麻煩。如:設(shè)備故障,或者自檢發(fā)現(xiàn)上次關(guān)機(jī)異常,進(jìn)入修復(fù)、校驗程序,造成啟動時間延長。

3、異常斷電對 CPU 有監(jiān)視電源電壓、或者有后備電池的設(shè)備則無妨,CPU 在電壓跌落至低工作電壓之前,會采取必要的措施,直至進(jìn)入關(guān)機(jī)程序。

4、對高電壓、大電流輸出的設(shè)備,異常斷電的危害是很大的,自感電勢等過激反應(yīng)有可能損壞保護(hù)電路,甚至功率輸出模塊本身。

直流電源電壓的跌落原因:

1、用的負(fù)荷太大拉低電壓值。

2、充電模塊給電池充滿電時電壓會低。

3、直流接地時電壓會低。

4、充電模塊輸出欠壓電壓會低。

5、調(diào)壓裝置不自動調(diào)壓負(fù)荷大時會電壓低。

6、沒有充電模塊,電池沒電時電壓會低。

典型設(shè)備測試:

 ? 一般單相測試設(shè)備,以選擇傳導(dǎo)瞬態(tài)抗干擾綜合機(jī)為經(jīng)濟(jì),例如UCS 500N5,UCS 500N7,配置抽頭變壓器后,就能進(jìn)行測試。

 ? 對于三相測試設(shè)備,可選兩種方案:

 ü 使用三相諧波閃爍測試系統(tǒng),例如15001iX-CTS;

 ü 使用專門的三相電源故障模擬器,例如PFS 503N等。

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn): 

IEC 61000-4-11/GB T17626.11:電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗


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