溫升測(cè)試
為驗(yàn)證電子產(chǎn)品的使用壽命、穩(wěn)定性等特性,通常會(huì)測(cè)試其重要元件(IC芯片等)的溫升,將被測(cè)設(shè)備置于高于其額定工作溫度(T=25℃)的某一特定溫度(T=70℃)下運(yùn)行,穩(wěn)定后記錄其元件高于環(huán)境溫度的溫升,驗(yàn)證此產(chǎn)品的設(shè)計(jì)是否合理。
1) 選取要測(cè)量的點(diǎn), 并粘好熱電偶,線圈的溫度用電阻法測(cè)量;
2) 將待測(cè)產(chǎn)品按要求放置;
通電,調(diào)整輸入至要求值
上一個(gè):物理性能測(cè)試
下一個(gè):漏電流和電氣強(qiáng)度測(cè)試
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