功率半導體概述
功率半導體是一種特殊的半導體器件,它們在電力系統(tǒng)中扮演著至關重要的角色。這些器件能夠高效地控制和調節(jié)電力的流動,包括電壓和頻率的轉換,以及交流電(AC)和直流電(DC)之間的轉換。這種能力使得功率半導體在各種電力應用中不可或缺,例如電力變換器、電機驅動器和電力調節(jié)器等。實驗室作為專業(yè)的檢測機構,提供全面的功率半導體測試服務,確保這些器件在各種電力應用中達到最佳性能。
功率半導體的應用領域
功率半導體器件在多個領域中發(fā)揮著核心作用,尤其是在新能源、軌道交通、電動汽車、工業(yè)應用和家用電器等領域。隨著電動汽車的快速發(fā)展,功率半導體器件市場迎來了爆炸式的增長。在這些應用中,功率半導體器件不僅需要提供高效率的電力轉換,還需要保證在惡劣環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性。
功率半導體的可靠性測試
為了確保功率半導體器件在各種電力轉換應用中的穩(wěn)定性和可靠性,實驗室提供了全面的測試和驗證服務。這些服務包括對功率半導體器件進行嚴格的性能測試和可靠性驗證,以確保它們在實際應用中的性能和耐用性。
功率循環(huán)測試簡介
功率循環(huán)測試是一種重要的可靠性測試,它模擬了功率半導體器件在實際運行中的溫度波動。這種測試通過讓芯片在間歇性通電的過程中產(chǎn)生熱量,從而使芯片溫度發(fā)生周期性變化。功率循環(huán)的周期通常在3到5秒之間,這種周期性的熱循環(huán)會對器件造成損傷,如綁線脫落、斷裂以及芯片焊層分離等。實驗室在進行功率循環(huán)測試時,通過精確控制測試條件,確保測試結果的準確性和可靠性。這種測試不僅能夠評估器件的耐久性,還能為后續(xù)的改進提供重要數(shù)據(jù)支持。
功率循環(huán)測試的機理
功率循環(huán)測試的損傷機理主要涉及到銅綁線和芯片表面鋁層的熱膨脹系數(shù)不同,以及芯片熱膨脹系數(shù)與DBC(Direct Bonded Copper)板不同所導致的問題。這些差異在溫度變化時會導致內部應力,從而影響器件的長期可靠性。
功率循環(huán)測試標準
車規(guī)級功率模塊的測試標準中,AQG324是由歐洲電力電子研究中心ECPE發(fā)布的一個常見標準。該標準對功率循環(huán)測試進行了詳細的規(guī)定,包括對Tvj的數(shù)據(jù)測量方法、測試條件和測試流程等。實驗室在進行測試時,必須實時監(jiān)測被測器件的關鍵參數(shù),如正向或飽和壓降Vce、結溫差ΔTvj和熱阻,這些參數(shù)是判定器件失效的關鍵。
功率循環(huán)測試的加載方法
業(yè)界的功率循環(huán)測試加載方法并不統(tǒng)一,不同的加載策略會對功率循環(huán)壽命產(chǎn)生影響。例如,有恒定的導通及關斷時間、恒定的殼溫Tc波動、恒定的功率Pv和恒定的結溫Tj波動等方法。這些方法通過調整導通時間、電流或功率來控制器件的溫度波動,以模擬實際應用中的工作條件。