鋁電解電容的失效分析
鋁電解電容是電容中非常常見的一種。鋁電解電容用途廣泛：濾波作用；旁路作用；耦合作用；沖擊波吸收；雜音消除；移相；降壓等等。對于鋁電解電容，常見的電性能測試包括：電容量，損耗角正切，漏電流，額定工作電壓，阻抗等等。在失效分析案件中，關于鋁電解電容的失效案件不少，那么常見的鋁電解電容的失效機理有哪些呢？
1.漏液
在正常的使用環(huán)境當中，經過一段時間密封便可能出現(xiàn)泄漏。通常，溫度升高、振動或密封的缺陷等都有可能加速密封性能變壞。漏液的結果是電容值下降、等效串聯(lián)電阻增大以及功率耗散相應增大等。漏液使工作電解液減少，喪失了修補陽極氧化膜介質的能力，從而喪失了自愈作用。此外，由于電解液呈酸性，漏出的電解液還會污染和腐蝕電容器周圍其他的元器件及印刷電路板。
2.介質擊穿
鋁電解電容器擊穿是由于陽極氧化鋁介質膜破裂，導致電解液直接與陽極接觸而造成的。氧化鋁膜可能因各種材料、工藝或環(huán)境條件方面的原因而受到局部損傷，在外電場的作用下工作電解液提供的氧離子可在損傷部位重新形成氧化膜，使陽極氧化膜得以填平修復。但是如果在損傷部位存在雜質離子或其他缺陷，使填平修復工作無法完善，則在陽極氧化膜上會留下微孔，甚至可能成為穿透孔，使鋁電解電容擊穿。工藝缺陷如陽極氧化膜不夠致密與牢固，在后續(xù)的鉚接工藝不佳時，引出箔條上的毛刺刺傷氧化膜，這些刺傷部位漏電流很大，局部過熱使電容器產生熱擊穿。
3.開路
當電容器內部的連接性能變差或失效時，通常就會發(fā)生開路。電性能連接變差的產生可能是腐蝕、振動或機械應力作用的結果。當鋁電解電容在高溫或潮熱的環(huán)境中工作時，陽極引出箔片可能會由于遭受電化學腐蝕而斷裂。陽極引出箔片和陽極箔的接觸不良也會使電容器出現(xiàn)間歇開路。
4.其他
1）在工作早期，鋁電解電容器由于在負荷工作過程中電解液不斷修補并增厚陽極氧化膜（稱為補形效應），會導致電容量的下降。
2）在使用后期，由于電解液的損耗較多，溶液變稠，電阻率增大，使電解質的等效串聯(lián)電阻增大，損耗增大。同時溶液黏度增大，難以充分接觸鋁箔表面凹凸不平的氧化膜層，這就使電解電容的有效極板面積減小，導致電容量下降。此外，在低溫下工作，電解液的黏度也會增大，從而導致電解電容損耗增大與電容量下降等后果。
| 參數 | 鋁電解電容 |
| 電容量 | 業(yè)界可以做到 0.1uF～3F （常見容量范圍 0.47uF～6.8mF），工作電壓從5V～500V。 從25℃到高溫極限，容量增加不超過5％～10％；對于－40℃極限的電容，在 －40℃時，低壓電容的容量會下降20％，高壓電容則下降有40％之多；在－20℃到
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