XRD圖譜分析實(shí)驗(yàn)室
簡(jiǎn)介
利用電子、光子、離子、原子、強(qiáng)電場(chǎng)、熱能等與固體表面的相互作用，測(cè)量從表面散射或發(fā)射的電子、光子、離子、原子、分子的能譜、光譜、質(zhì)譜、空間分布或衍射圖像，表征材料表面微觀形貌、表面粗糙度、表面微區(qū)成分、表面組織結(jié)構(gòu)、表面相結(jié)構(gòu)、表面鍍層結(jié)構(gòu)及成分等相關(guān)參數(shù)。
檢測(cè)范圍
材料、電子、汽車、航空、機(jī)械加工、半導(dǎo)體制造、陶瓷品、化學(xué)、醫(yī)學(xué)、生物、冶金、地質(zhì)學(xué)等。
檢測(cè)項(xiàng)目
表面微觀形貌、表面粗糙度、表面微區(qū)成分、表面組織結(jié)構(gòu)、表面相結(jié)構(gòu)、表面鍍層結(jié)構(gòu)及成分、結(jié)晶度、定性分析、物質(zhì)晶系、晶胞參數(shù)、各物質(zhì)定量分析等相關(guān)參數(shù)。
分析項(xiàng)目
晶體結(jié)構(gòu)分析、物相定性分析、物相定量分析、晶粒大小分析、非晶態(tài)機(jī)構(gòu)分析、結(jié)晶度分析、宏觀應(yīng)力分析、微觀應(yīng)力分析、擇優(yōu)取向分析等。